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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀

產(chǎn)品型號(hào)：

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

所在地：深圳市

更新時(shí)間：2024-11-12

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	Ophir	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) :

取樣尺度可以到微米量級(jí)，遠(yuǎn)小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

采用單點(diǎn)探測(cè)器，適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍，一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) :

多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

不適合非典型分布的激光，近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測(cè)量（焦點(diǎn)測(cè)量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀

NanoScan 2s Si/3.5/1.8 7µm至~2.3mm

NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測(cè)器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件

PH00456

NS2s-SI/3.5/1.8-STD

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

PH00464

NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

產(chǎn)品規(guī)格

產(chǎn)品名稱：NanoScan 2s Si/3.5/1.8